1. Advanced calculations for defects in materials
المؤلف: / edited by Audrius Alkauskas ...[et al].
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Materials--Testing--Mathematical models.,Semiconductors--Materials--Testing.
رده :
TA
410
.
A379
2011
2. Advanced calculations for defects in materials
المؤلف: / edited by Audrius Alkauskas ...[et al]
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Materials, Testing, Mathematical models,Semiconductors, Materials, Testing
رده :
TA410
.
A379
2011
3. Advanced calculations for defects in materials : electronic structure methods
المؤلف: edited by Audrius Alkauskas ...]et al[
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: Testing Mathematical models ، Materials,Materials Testing ، Semiconductors
رده :
TA
410
.
A379
2011
4. Beam injection assessment of defects in semiconductors
المؤلف: / edited by M. Kittler...(et al)
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Semiconductors- Defects- Congresses,Semiconductors- Defects- Testing
رده :
QC10
.
J1I421
1998
5. Debye Screening Length.
المؤلف: \ Kamakhya Prasad Ghatak, Sitangshu Bhattacharya
المکتبة: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع: Nanostructured materials,موادنانوساختار,a01,a01,Semiconductors -- Testing -- Optical methods.,Thomas-Fermi theory,نیمه‌هادی‌ها -- آزمایش -- روش های نوری
رده :
TA
418
.
9
.
G46D4
2014
E-Book
,
6. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
المؤلف: Sachdev, Manoj.
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
7. Electrical characterization of GaAs materials and devices
المؤلف: / David C. Look,Look
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Gallium arsenide semiconductors -- Testing,Magnetoresistance
رده :
TK
7871
.
15
.
G3L66
1989
8. Electrical characterization of GaAs materials and devices
المؤلف: Look, D. C. )David C.(, 8391-
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Gallium arsenide semiconductors- Testing,، Magnetoresistance
رده :
TK
7871
.
15
.
G3L66
1989
9. Electrical characterization of GaAs materials and devices
المؤلف: / David C. Look
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Gallium arsenide semiconductors - Testing,Magnetoresistance
رده :
TK
7871
.
15
.
L6
1989
10. Electrical characterization of GaAs materials and devices
المؤلف: Look, David C.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing ، Gallium arsenide semiconductors,Magnetoresistance
رده :
TK
7871
.
15
.
G3
L66
1989
11. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
المؤلف: edited by Lawrence C. Wagner
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
12. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
المؤلف: edited by Lawrence C. Wagner
المکتبة: (طهران)
موضوع: Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
13. Handbook of solid-state troubleshooting
المؤلف: Herrick, Clyde N.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Semiconductors-- Testing,، Electronic apparatus and appliances-- Maintenance and repair
رده :
TK
7871
.
85
.
H47
14. Handbook of solid-state troubleshooting
المؤلف: Herrick, Clyde N.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing ، Semiconductors,Maintenance and reprint ، Electronic apparatus and appliances
رده :
TK
7871
.
85
.
H47
15. ICMTS 93 : proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 22-25, 1993, Sitges, Barcelona, Spain
المؤلف: sponsored by the IEEE Electron Devices Society
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Testing - Congresses , Semiconductors - Testing - Congresses , Transistors - Testing - Congresses
رده :
TK
7874
.
I3233
1993
16. IDDQ testing of VLSI circuits
المؤلف: / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
رده :
TK
7874
.
I3223
1993
17. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
المؤلف: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
18. Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
المؤلف: Beck, Friedrich
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Semiconductors- Failures,، Semiconductors_ Testing
رده :
TK
7871
.
852
.
B43
19. Integrated circuit manufacturability
المؤلف: edited by Josae Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits, Computer-aided design,Metal oxide semiconductors, Complementary, Computer-aided design,Integrated circuits, Testing
رده :
TK
,
7874
,.
I4713
20. Lock-in thermograph
المؤلف: / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography,Electronic books
رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010
